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用于特殊结构微小缺陷检测的高分辩率计算机射线照相技术

2015年01月29日 10:46   来源:   作者:  
  该项目是航天工程“天宫一号”某重点型号的关键部件研制中的技术攻关,由于产品结构特殊(工件厚度小于0.5mm,焊缝位于板边缘,工件及焊缝形状为环形、多层结构);并且要求检出的缺陷极其微小(清晰显示焊缝中0.1mm点状缺陷和0.05mm的线形缺陷),2006以来的两年多时间里,国内多家机构曾用超声、涡流、胶片射线照相等多种无损检测方法进行试验,均未能获得成功,成为航天工程卡脖子难题。我院得悉有关情况后,经过调研提出一个新技术、新装备和新工艺的系统集成技术方案,即:采用高分辨率计算机数字射线照相技术装备,结合特殊的工艺措施和优化的工艺参数实施检测。在半年左右的时间里,经过多次试验,终于解决了薄壁、多层、环形电子束焊缝中微小缺陷检测难题,实现项目预定的全部指标。

  2009年申报国家质量监督检验检疫总局科技兴检奖,已入围。

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